EQUIPMENT
Used equipment (offers/wanted)
02. Apr. 2024
Gerne auch vergleichbare Geräte oder REM-Umbauten. Save
Kontakt:
Joerg Knieschewski (Dipl.-Ing.)
E-Mail: mail@joerg-knieschewski.de
mobil: +49 177 2837048
13. Mar. 2024
Kontakt:
CT Messtechnik Saar, Inhaber Jan Gräser
Im Stauch 58
66540 Neunkirchen-Wiebelskirchen
mobil: +49 170 7526257
E-Mail: jan.graeser@ct-messtechnik-saar.de
14. Feb. 2024
Gerne auch defekt als Ersatzteilspender
Kontakt:
Oliver Oppermann
Tel.: +49 421-218-62265
E-Mail: O.Oppermann@uni-bremen.de
7. Apr. 2023
FEI Nova NanoLab 600 Dual beam Focused Ion Beam Scanning Electron Microscope (FIB-SEM) inkl. Ga-FIB, FEG-Emitter, Gas injection system und Omniprobe
Das Gerät steht in den Kalenderwochen 15 und 16 zur Besichtigung bereit und Termine können telefonisch vereinbart werden unter +49 – 5 5 1 – 3 9 2 5 0 2 6
Bei Interesse ist ein verschlossenes Angebot postalisch bis zum 21.04.2023 12:00 Uhr an folgende Adresse abzugeben:
Kontakt:
Tobias Meyer
Georg-August-Universität Göttingen, Institut für Materialphysik
Friedrich-Hund-Platz 1
37077 Göttingen